Celiksoy Law olarak, yar\u0131 iletken malzemeler, ince filmler ve iki boyutlu kristaller \u00fczerine \u00e7al\u0131\u015fan makine m\u00fchendisi m\u00fcvekkilimizin EB-2 NIW ba\u015fvurusunda onay ald\u0131k. Dosyada, atomik \u00f6l\u00e7ekteki kusurlar\u0131n ve gerinimin malzeme davran\u0131\u015f\u0131n\u0131 nas\u0131l etkiledi\u011fine ili\u015fkin ara\u015ft\u0131rmalar\u0131n\u0131, ABD\u2019de s\u00fcrd\u00fcrmeyi planlad\u0131\u011f\u0131 \u00e7al\u0131\u015fmalarla birlikte sunduk.<\/p>\n
Bu ba\u015fvurunun \u00f6ne \u00e7\u0131kan y\u00f6n\u00fc, \u00fcniversite ara\u015ft\u0131rmalar\u0131 ile sekt\u00f6r deneyiminin birbirini tamamlamas\u0131yd\u0131. M\u00fcvekkilimiz, laboratuvarda malzemelerin nano \u00f6l\u00e7ekteki \u00f6zelliklerini incelerken yar\u0131 iletken \u00fcretim ekipmanlar\u0131yla ilgili staj\u0131nda y\u00fczey ve kirlenme sorunlar\u0131 \u00fczerinde de \u00e7al\u0131\u015fm\u0131\u015ft\u0131. Her iki deneyim, yeni elektronik malzemelerin g\u00fcvenilirli\u011fine y\u00f6nelik ara\u015ft\u0131rma plan\u0131n\u0131 a\u00e7\u0131klamak i\u00e7in dosyada yer ald\u0131.<\/p>\n
M\u00fcvekkilimiz lisans, y\u00fcksek lisans ve doktora e\u011fitimini makine m\u00fchendisli\u011fi alan\u0131nda tamamlad\u0131. Y\u00fcksek lisans \u00e7al\u0131\u015fmas\u0131nda katmanl\u0131 kompozitlerin yap\u0131sal dayan\u0131m\u0131n\u0131 art\u0131rmaya y\u00f6nelik optimizasyon y\u00f6ntemlerini ara\u015ft\u0131rd\u0131. Doktora \u00e7al\u0131\u015fmas\u0131nda ise taramal\u0131 u\u00e7 mikroskopisi kullanarak yeni elektronik malzemelerdeki kusurlar\u0131 ve gerinimin etkilerini inceledi.<\/p>\n
Bu ara\u015ft\u0131rmalarda mekanik davran\u0131\u015f ile elektriksel \u00f6zellikler bir araya geliyordu. Bir malzemenin performans\u0131, kimyasal bile\u015fimiyle birlikte y\u00fczey yap\u0131s\u0131ndan, atomik kusurlar\u0131ndan ve \u015fekil de\u011fi\u015ftirmesinden de etkilenebiliyordu. Gerinim, malzemenin mekanik etki alt\u0131nda u\u011frad\u0131\u011f\u0131 g\u00f6reli \u015fekil de\u011fi\u015fimini ifade ediyor; m\u00fcvekkilimizin \u00e7al\u0131\u015fmalar\u0131nda elektriksel davran\u0131\u015f\u0131 de\u011fi\u015ftirebilecek bir ara\u015ft\u0131rma de\u011fi\u015fkeni olarak ele al\u0131n\u0131yordu.<\/p>\n
Dosyada a\u00e7\u0131klanan ABD\u2019deki doktora sonras\u0131 deneyimi de ince film sentezini ve ileri malzeme analizini kaps\u0131yordu. Malzemenin nas\u0131l b\u00fcy\u00fct\u00fcld\u00fc\u011f\u00fcn\u00fc, y\u00fczeyinin nas\u0131l incelendi\u011fini ve \u00f6zelliklerinin nas\u0131l \u00f6l\u00e7\u00fcld\u00fc\u011f\u00fcn\u00fc birlikte ele alan bu birikim, gelecek \u00e7al\u0131\u015fma plan\u0131n\u0131n dayana\u011f\u0131yd\u0131.<\/p>\n
M\u00fcvekkilimizin \u00e7al\u0131\u015fma plan\u0131 \u00fc\u00e7 ba\u011flant\u0131l\u0131 hedef etraf\u0131nda \u015fekilleniyordu.<\/p>\n
\u0130nce filmlerin ve iki boyutlu malzemelerin kontroll\u00fc b\u00fcy\u00fct\u00fclmesi.<\/strong> Molek\u00fcler demet epitaksisi ve kimyasal buhar biriktirme y\u00f6ntemleriyle b\u00fcy\u00fctme ko\u015fullar\u0131n\u0131n kusurlar, gerinim ve malzeme kalitesi \u00fczerindeki etkilerinin ara\u015ft\u0131r\u0131lmas\u0131 planlan\u0131yordu. Ama\u00e7, yeni elektronik teknolojilerde kullan\u0131labilecek malzemeler i\u00e7in daha tekrarlanabilir \u00fcretim y\u00f6ntemlerine katk\u0131 sa\u011flamakt\u0131.<\/p>\n Yap\u0131 ile performans aras\u0131ndaki ili\u015fkinin incelenmesi.<\/strong> Taramal\u0131 u\u00e7 mikroskopisi, elektron mikroskopisi ve spektroskopi y\u00f6ntemleri bir araya getirilerek atomik \u00f6l\u00e7ekteki de\u011fi\u015fikliklerin elektriksel ve mekanik davran\u0131\u015f\u0131 nas\u0131l etkiledi\u011fi ara\u015ft\u0131r\u0131lacakt\u0131. Bu \u00e7al\u0131\u015fmalar\u0131n, kusurlar\u0131n giderilmesi ve y\u00fczey i\u015flemleri gibi konularda bilgi \u00fcretmesi hedefleniyordu.<\/p>\n Elektronik uygulamalara y\u00f6nelik ara\u015ft\u0131rmalar.<\/strong> Elde edilecek bulgular\u0131n d\u00fc\u015f\u00fck enerji t\u00fcketimli transist\u00f6rler, sens\u00f6rler ve kuantum teknolojilerine y\u00f6nelik malzemelerle ili\u015fkilendirilmesi plan\u0131n di\u011fer aya\u011f\u0131yd\u0131. Cihazlara entegrasyon ve \u00f6l\u00e7eklenebilir \u00fcretim, ara\u015ft\u0131rmalarla ilerletilmesi hedeflenen alanlar olarak sunuldu.<\/p>\n Dosyada, bu \u00e7al\u0131\u015fmalar\u0131n daha geni\u015f katk\u0131s\u0131n\u0131 belirli teknik sorular \u00fczerinden a\u00e7\u0131klad\u0131k. Malzeme b\u00fcy\u00fctme y\u00f6ntemleri ve g\u00fcvenilirlik hakk\u0131nda \u00fcretilecek bilgi, farkl\u0131 laboratuvarlar\u0131n ve yar\u0131 iletken geli\u015ftirme ekiplerinin \u00e7al\u0131\u015fmalar\u0131na yard\u0131mc\u0131 olabilirdi. B\u00f6ylece \u00e7al\u0131\u015fma plan\u0131n\u0131n, tek bir ara\u015ft\u0131rma g\u00f6revini a\u015fan potansiyel kullan\u0131mlar\u0131 ortaya konuldu.<\/p>\n M\u00fcvekkilimizin yay\u0131nlar\u0131n\u0131, yapmay\u0131 planlad\u0131\u011f\u0131 \u00e7al\u0131\u015fmalarla ili\u015fkileri \u00fczerinden de\u011ferlendirdik. Her yay\u0131n, ara\u015ft\u0131rma birikiminin farkl\u0131 bir y\u00f6n\u00fcn\u00fc a\u00e7\u0131kl\u0131yordu.<\/p>\n Atomik kusurlar ve malzeme g\u00fcvenilirli\u011fi.<\/strong> Ortak yazarl\u0131 bir ara\u015ft\u0131rmada, tek katmanl\u0131 molibden dis\u00fclf\u00fcrde kimyasal i\u015flemin mekanik g\u00fcvenilirli\u011fi ve elektriksel \u00f6zelliklerin y\u00fczey boyunca tutarl\u0131l\u0131\u011f\u0131n\u0131 nas\u0131l etkiledi\u011fi incelendi. M\u00fcvekkilimiz, yerel elektriksel \u00f6zelliklerin iletken atomik kuvvet mikroskopisiyle \u00f6l\u00e7\u00fclmesine katk\u0131 sa\u011flad\u0131. Bu \u00e7al\u0131\u015fma, kusurlar\u0131 gidermeye y\u00f6nelik i\u015flemlerin deneysel ko\u015fullarda malzeme davran\u0131\u015f\u0131n\u0131 iyile\u015ftirip iyile\u015ftirmedi\u011fi sorusuyla ili\u015fkiliydi.<\/p>\n Gerinimin elektriksel \u00f6zelliklere etkisi.<\/strong> \u0130lk yazar olarak yer ald\u0131\u011f\u0131 bir \u00e7al\u0131\u015fmada, ince molibden karb\u00fcr kristallerindeki \u00e7ekme geriniminin iletkenlik ve i\u015f fonksiyonu \u00fczerindeki etkisi incelendi. \u0130\u015f fonksiyonu, bir elektronu malzeme y\u00fczeyinden uzakla\u015ft\u0131rmak i\u00e7in gereken enerjiyi anlat\u0131yor. Ayr\u0131 bir hesaplamal\u0131 ara\u015ft\u0131rmada ise gerinim ve kusurlar\u0131n molibden karb\u00fcr y\u00fczeylerindeki elektronik yap\u0131ya ve hidrojen adsorpsiyonuna etkisi ele al\u0131nd\u0131. Bu \u00e7al\u0131\u015fmalar, deneysel \u00f6l\u00e7\u00fcm ve kuramsal hesaplama deneyimini farkl\u0131 y\u00f6nleriyle g\u00f6steriyordu.<\/p>\n \u0130nce kristallerin b\u00fcy\u00fct\u00fclmesi.<\/strong> Ortak yazarl\u0131 bir sentez \u00e7al\u0131\u015fmas\u0131nda, grafenin karbon kayna\u011f\u0131 olarak kullan\u0131ld\u0131\u011f\u0131 bir y\u00f6ntemle \u00e7ok ince molibden karb\u00fcr kristalleri elde edilmesi ara\u015ft\u0131r\u0131ld\u0131. Bu \u00e7al\u0131\u015fma, kontroll\u00fc malzeme b\u00fcy\u00fctme hedefiyle ba\u011flant\u0131l\u0131yd\u0131. Sonu\u00e7lar, ticari \u00f6l\u00e7ekte \u00fcretimin tamamland\u0131\u011f\u0131 \u015feklinde anlat\u0131lmad\u0131.<\/p>\n Y\u00fczey \u00f6l\u00e7\u00fcmleri ve y\u00f6ntem bilgisi.<\/strong> M\u00fcvekkilimizin ilk yazarl\u0131 yay\u0131nlar\u0131 aras\u0131nda ala\u015f\u0131m s\u00fclf\u00fcr filmlerinin nano \u00f6l\u00e7ekte s\u00fcrt\u00fcnmesini inceleyen bir ara\u015ft\u0131rma ve MXene ad\u0131 verilen iki boyutlu malzemelerde taramal\u0131 u\u00e7 mikroskopisinin kullan\u0131m\u0131n\u0131 ele alan bir perspektif yaz\u0131s\u0131 da bulunuyordu. S\u00fcrt\u00fcnme ara\u015ft\u0131rmas\u0131 y\u00fczey \u00f6l\u00e7\u00fcmlerindeki deneyimini; perspektif yaz\u0131s\u0131 ise mevcut y\u00f6ntemleri ve gelecek ara\u015ft\u0131rma imk\u00e2nlar\u0131n\u0131 de\u011ferlendirme y\u00f6n\u00fcn\u00fc destekliyordu.<\/p>\n Malzeme ve y\u00fczey bilimi staj\u0131nda m\u00fcvekkilimiz, yar\u0131 iletken ekipmanlar\u0131n\u0131n par\u00e7alar\u0131n\u0131 ve test sistemlerini incelemek i\u00e7in mikroskopi, spektroskopi ve y\u00fczey \u00f6l\u00e7\u00fcm y\u00f6ntemlerinden yararland\u0131. Dosyada, par\u00e7ac\u0131k ve molek\u00fcler kirleticilerin hareketine ve malzeme y\u00fczeyleriyle etkile\u015fimine ili\u015fkin \u00e7al\u0131\u015fmalar\u0131 a\u00e7\u0131kland\u0131.<\/p>\n Staj\u0131ndaki y\u00f6neticisinin referans mektubu, bu incelemelerin kirlenme kontrol\u00fc \u00fczerinde \u00e7al\u0131\u015fan m\u00fchendislik ekiplerine nas\u0131l bilgi sa\u011flad\u0131\u011f\u0131n\u0131 anlat\u0131yordu. B\u00f6ylece akademik ara\u015ft\u0131rmalar\u0131n\u0131n yan\u0131nda, ekipmanlarla ilgili somut sorunlar\u0131 de\u011ferlendirme deneyimi de ortaya konuldu. Bu g\u00f6rev, staj\u0131n kapsam\u0131 ve \u00fcstlendi\u011fi teknik sorumluluklar \u00e7er\u00e7evesinde sunuldu.<\/p>\n M\u00fchendislik derslerindeki \u00f6\u011fretim deneyimi ve \u00f6\u011frencilere y\u00f6nelik ment\u00f6rl\u00fc\u011f\u00fc de dosyay\u0131 tamaml\u0131yordu. \u00d6\u011fretim de\u011ferlendirmeleri, ment\u00f6rl\u00fck teyidi ve \u00f6\u011fretim alan\u0131ndaki takdir, teknik bilgiyi aktarma ve ara\u015ft\u0131rma becerilerini geli\u015ftirmeye yard\u0131mc\u0131 olma deneyimini destekliyordu.<\/p>\n Ba\u015fvuruyu, m\u00fcvekkilimizin kulland\u0131\u011f\u0131 y\u00f6ntemler, belgelenen katk\u0131lar\u0131 ve gelecek ara\u015ft\u0131rma hedefleri aras\u0131ndaki ba\u011flant\u0131 \u00fczerine geli\u015ftirdik. Yay\u0131nlar bilimsel temeli, sekt\u00f6r deneyimi uygulamadaki y\u00fczey sorunlar\u0131yla kurdu\u011fu ili\u015fkiyi, uzman mektuplar\u0131 ise ortak \u00e7al\u0131\u015fmalar i\u00e7indeki ki\u015fisel rol\u00fcn\u00fc a\u00e7\u0131kl\u0131yordu.<\/p>\n Dosyada malzeme b\u00fcy\u00fctme, kusurlar ve g\u00fcvenilirlik konusunda \u00fcretilecek bilginin yar\u0131 iletken geli\u015ftirme \u00e7al\u0131\u015fmalar\u0131na sa\u011flayabilece\u011fi katk\u0131y\u0131 savunduk. M\u00fcvekkilimizin akademik ve sekt\u00f6rel deneyiminin bu ara\u015ft\u0131rmalar\u0131 ilerletmesini nas\u0131l destekledi\u011fini de ortaya koyduk. \u00c7al\u0131\u015fma plan\u0131n\u0131n \u00f6nemini, hedeflenen katk\u0131 ve bu katk\u0131y\u0131 destekleyen somut birikim \u00fczerinden a\u00e7\u0131klad\u0131k.<\/p>\n USCIS, EB-2 NIW ba\u015fvurusunu onaylad\u0131. Onay belgesi sonucu do\u011fruluyor; kurumun her yay\u0131n veya kan\u0131t hakk\u0131ndaki de\u011ferlendirmesini ayr\u0131nt\u0131l\u0131 olarak a\u00e7\u0131klam\u0131yor.<\/p>\nYay\u0131nlar ara\u015ft\u0131rma plan\u0131n\u0131 nas\u0131l destekliyordu?<\/h2>\n
Sekt\u00f6r deneyiminin dosyaya katk\u0131s\u0131<\/h2>\n
Ba\u015fvuruyu Destekleyen Kan\u0131tlar<\/h2>\n
\n\n
\n \nBa\u015fvuruda belirtilen kan\u0131t<\/th>\n Dosyadaki i\u015flevi<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n \n Makine m\u00fchendisli\u011fi e\u011fitimi ve doktora ara\u015ft\u0131rmas\u0131<\/td>\n Mekanik davran\u0131\u015f ile elektronik malzemeleri birle\u015ftiren ileri e\u011fitimi a\u00e7\u0131klamak.<\/td>\n<\/tr>\n \n \u0130nce film ve doktora sonras\u0131 ara\u015ft\u0131rma deneyimi<\/td>\n \u00c7al\u0131\u015fma plan\u0131yla ilgili sentez, mikroskopi ve malzeme analizi deneyimini g\u00f6stermek.<\/td>\n<\/tr>\n \n Deneysel ve hesaplamal\u0131 ara\u015ft\u0131rma yay\u0131nlar\u0131<\/td>\n Kusurlar, gerinim, y\u00fczey \u00f6zellikleri ve malzeme b\u00fcy\u00fctme konular\u0131ndaki \u00e7al\u0131\u015fmalar\u0131n\u0131 gelecek hedefleriyle ili\u015fkilendirmek.<\/td>\n<\/tr>\n \n Mikroskopi y\u00f6ntemlerine ili\u015fkin perspektif yaz\u0131s\u0131<\/td>\n Y\u00f6ntem bilgisi ve ara\u015ft\u0131rma imk\u00e2nlar\u0131n\u0131 de\u011ferlendirme y\u00f6n\u00fcn\u00fc a\u00e7\u0131klamak; \u00f6zg\u00fcn deneysel yay\u0131ndan ay\u0131rmak.<\/td>\n<\/tr>\n \n Yay\u0131nlar\u0131na yap\u0131lan at\u0131flar<\/td>\n Ara\u015ft\u0131rmalar\u0131na literat\u00fcrde yap\u0131lan g\u00f6ndermeleri, dosyada a\u00e7\u0131klanan \u00f6rneklerle sunmak.<\/td>\n<\/tr>\n \n Staj kay\u0131tlar\u0131 ve y\u00f6netici mektubu<\/td>\n Y\u00fczey ve kirlenme ara\u015ft\u0131rmalar\u0131ndaki g\u00f6revlerini ve katk\u0131s\u0131n\u0131 a\u00e7\u0131klamak.<\/td>\n<\/tr>\n \n Kongre kay\u0131tlar\u0131<\/td>\n Sunum belgeleriyle kat\u0131l\u0131m belgelerini ay\u0131rarak bilimsel payla\u015f\u0131m\u0131 g\u00f6stermek.<\/td>\n<\/tr>\n \n Ara\u015ft\u0131rma burslar\u0131 ve takdir belgeleri<\/td>\n Ara\u015ft\u0131rma deste\u011fini, \u00f6\u011fretim ba\u015far\u0131s\u0131n\u0131 ve sunum veya bilimsel g\u00f6r\u00fcnt\u00fcleme alan\u0131ndaki farkl\u0131 dereceleri belgelemek.<\/td>\n<\/tr>\n \n \u00d6\u011fretim de\u011ferlendirmeleri ve ment\u00f6rl\u00fck teyidi<\/td>\n M\u00fchendislik e\u011fitimi ve ara\u015ft\u0131rmac\u0131 yeti\u015ftirme deneyimini desteklemek.<\/td>\n<\/tr>\n \n Ba\u011f\u0131ms\u0131z uzman ve referans mektuplar\u0131<\/td>\n Katk\u0131lar\u0131n\u0131n teknik ba\u011flam\u0131n\u0131 a\u00e7\u0131klamak; ba\u011f\u0131ms\u0131z g\u00f6r\u00fc\u015fleri dan\u0131\u015fman, ortak ara\u015ft\u0131rmac\u0131 ve y\u00f6netici de\u011ferlendirmelerinden ay\u0131rmak.<\/td>\n<\/tr>\n \n Gelecek \u00e7al\u0131\u015fma plan\u0131<\/td>\n Ara\u015ft\u0131rma hedeflerini, mevcut deneyimini ve hedeflenen daha geni\u015f katk\u0131y\u0131 birlikte a\u00e7\u0131klamak.<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<\/div>\n Ara\u015ft\u0131rma birikimi ile NIW gerek\u00e7esini birle\u015ftiren dosya<\/h2>\n